扭轉(zhuǎn)監(jiān)測(cè)衰減

除非另有規(guī)定,試驗(yàn)期間樣品的衰減應(yīng)按GB/T18311.3—2001規(guī)定進(jìn)行監(jiān)測(cè)。任何對(duì)3.6測(cè)量的器件衰減偏差將認(rèn)為是由器件中的光纜/器件接口、光纖/光纖接口或光纖與光源/探測(cè)器接口引起的。

注:如果產(chǎn)生不允許的衰減變化,并且光纜自身可能有缺陷,可以采用一段光纜和兩個(gè)光纜夾持裝置以同樣的方式

進(jìn)行一項(xiàng)確定光纜產(chǎn)生影響的控制試驗(yàn)。